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一、问题的提出在研制“数字集成电路智能测试仪”的过程中,需要扩展数量较多的且具有位控功能的I/O口。为此,我们针对MCS-51系列......
<正> 一、问题的提出在研制“数字集成电路智能测试仪”的过程中,需要扩展数量较多的且具有位控功能的I/O口。为此,我们针对MCS-51......