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PMOS漏电相关论文
40纳米工艺PMOS漏电流检测分析与良率提升
最近几十年来,半导体技术一直是遵循着摩尔定律的发展规律前进,新的工艺带来了芯片性能、面积和功耗等其他优势,促进着半导体行业......
学位
40nm
CMOS工艺
PMOS漏电
缺陷分析
良率提升
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