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JFET输入运算放大器相关论文
正常工作状态与零偏置JFET输入运算放大器的辐射损伤
对处于正常工作和零偏置状态的JFET输入运算放大器,进行了高低剂量率辐射试验。结果表明,工作状态影响JFET运放电路的辐射效应和辐......
期刊
JFET输入运算放大器
正常工作状态
零偏置状态
辐射损伤
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