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电子技术的发展日新月异,芯片功能不断被增强,系统设计也早已从当初简单的电路板设计演变成多芯片片上系统(SoC)架构的设计。随之......
学位
随着电子技术日新月异的发展,芯片朝着低功耗、多功能、大规模和小封装的方向快速发展,多CPU或IP(Intellectual Property)模块的系......
随着电子信息技术的飞速发展,多个 IP核被集成于同一芯片中以实现多样化的新功能,但单芯片多核设计的同时也集成了各内核的测试访......
随着芯片一体化进程的加速以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、测试、应用等方面。紧凑......
摘要：随着电子技术的发展，芯片功能H趋复杂，在芯片中集成多个TAPC来实现芯片功能多样化成为发展趋势；为避免重复开发所带来的额外开销，......
为解决复杂芯片的测试与调试问题，提出支持IEEE1149.7标准的边界扫描控制器。在对IEEE1149.7标准和边界扫描测试技术进行深入研究的......
针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型（Star-2）扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处......
为完成对日益复杂的目标器件的测试工作,在研究边界扫描测试技术和IEEE1149.7标准的基础上,对符合IEEE1149.7标准的边界扫描测试控......
随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的......
