随着电子信息技术的飞速发展,多个 IP核被集成于同一芯片中以实现多样化的新功能,但单芯片多核设计的同时也集成了各内核的测试访问端口控制器(TAPC)。基于IEEE1149.1标准(JTAG)的边界扫描测试技术已很难满足芯片设计对调试与测试的要求。IEEE1149.7标准(CJTAG)的提出解决了这一问题,它在保持与JTAG兼容的基础上支持多片上TAPC结构,并精简了测试引脚,提供了新的星型拓扑扫描功能。　　本文在深入研究IEEE1149.7标准结构和规范的基础上,设计了解决芯片调试与测试问题的边界扫描调试与测试系统(DTS)。在设计过程中针对调试与测试系统所支持的标准协议操作、控制协议操作和高级协议操作等关键技术部分进行了深入剖析,并利用可扩展的模块化设计方法对各协议规定的核心操作进行分模块设计。标准协议操作单元包括串行扫描模块、控制器命令模块、四线星型扫描模块,控制协议操作单元包括选择控制模块,高级协议操作单元包括 MScan扫描模块、OScan扫描模块和非扫描数据传输模块。调试与测试系统根据上位机的命令实现CJTAG协议的自动转换,产生符合IEEE1149.7标准的测试信号,完成芯片的调试与测试工作。　　利用QuartusⅡ设计软件和Verilog HDL硬件描述语言对各模块进行编程仿真验证,结果表明该调试与测试系统产生的CJTAG信号符合IEEE1149.7标准规范要求,能够实时控制待测芯片实现相应的调试与测试功能。