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观察了样品几何尺寸、表面复合速度及光的贯穿程度,对半导体少数载流子光电导衰退中高次模的影响。在测量时使用贯穿光、大尺寸样......
一、前言 非平衡少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体材料的重要参数之一,它可反映出材料的杂质和缺陷情况。 所谓少子寿命,是......
空气中的氧在CdS-CdSe烧结膜中晶粒表面上的吸附,使晶粒的表面态发生变化,影响了晶粒中载流子的表面复合率.直流光电导衰退法测量......
实现表面光电压法（SPV）在大注入水平下的少子寿命测量对表面光电压技术的应用和准确测量具有重要意义。本文计算了P型单晶硅片三种复......
