随着纳米技术的发展，以及IC设计和制造业技术的快速发展，高密度、高速、ASIC、SOC等新型芯片的不断涌现。基于传统的探针测试已经不......

随着待测芯片的集成度越来越高，单芯片多核设计、片上系统和叠层裸片技术等成为芯片设计的主流技术，JTAG已很难满足芯片设计对测试与......

随着芯片一体化进程的加速以及对功耗控制的关注日益增加,边界扫描技术面临新的挑战,这些挑战来源于调试、测试、应用等方面。紧凑......

边界扫描技术（JTAG）已在集成电路的可测性设计与故障诊断领域被广泛使用了二十多年，并发挥着重要作用。针对如今测试时需要精简引脚并......

测试维护总线是机载计算机测试技术研究的难点和关键技术之一，简要介绍了测试维护总线（testandmaintenancebus）TM－BUS控制器的设计，重点......

在对SOC测试时，SOC测试结构的核心部分是测试访问机制（TAM）和测试调度控制器．文中设计了一种新颖的基于测试总线的SOC测试调度控制器．用......

测试维护总线是机载计算机技术研究的难点和关键技术之一，简要介绍了测试维护总线TM－BUS（test and maintenance bus)及其应用，论述的TM......

功能测试是信号产品生命周期中的重要阶段,而测试环境是功能测试的主要支撑,作为测试环境“大脑”的测试控制器在其中扮演着及其重......

优势·回路更新速率为2500Hz，可实现最大的响应，必要时可更高；·优化的技术可更快、更精确地进行测试；·虚拟通道能力满足......

针对《国家学生体质健康标准(2014年修订)》的新要求,综合运用计算机技术、网络计算、传感技术等设计了一套学生体质测试自动化系......

随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的......

穆格是伺服阀技术的发明者,还有包括先进的测试控制器和软件,先进的液压和电动作动器等都已经在欧洲和北美广泛地应用在汽车实验室......

为了解决复杂电路板的测试点少和测试覆盖率低以及传统的测试设备体积大、成本高等问题,IEEE1149.1标准被公布并发展出了边界扫描......

近几年,半导体工艺和集成电路系统设计发展日新月异,系统级芯片正-步步成为超大集成电路的主流。SOC通常要集成多个已设计完成的IP......

在深入研究IEEE1149．7标准的基础上，针对测试问题设计了CJTAG测试控制器，实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能......