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现代数字集成电路技术的飞速发展,对计算机辅助测试提出了更多更高的要求,可满足性方法(SAT-Satisfiability)作为一种有效的完备测......
本文讨论了在源输入的确定赋值数最小时组合电路的测试生成方法后,介绍了基于可满足性的测试向量压缩的整数线性规划(ILP)模型.利......
描述了可满足性的测试向量生成(SAT-ATPG)算法,针对此算法的不足,提出反向路径敏化算法(BPS)嵌入SAT-ATPG中,减少了CNF的构成时间......
实现了基于可满足性(SAT)求解的方法,以解决固定型和时延故障的自动测试向量生成问题。详细讨论了如何利用电路的拓扑结构以及从AT......
芯片验证是保证芯片成功的重要手段,RTL级仿真验证是芯片开发流程中必不可少的环节,只有经过充分地仿真验证,才能保证芯片设计的零......
集成电路设计过程中,随着电路规模和复杂度的增大,设计故障变得越来越多,因此对于设计故障的测试方法也提出越来越高的要求。自动......
随着电子技术的发展,传统测试方法已无法满足日趋复杂的电子电路系统的故障诊断。互连测试在电路故障诊断中扮演着十分重要的角色,......
