在速故障相关论文
提出了一套采用片内PLL时钟，实现在速扫描测试电路故障的方法，包括设计思路，设计实现方法，电路的结构和测试向量的产生，以及仿真验证这......
我们已经进入到系统芯片时代,集成电路设计越来越复杂,芯片面积的越来越大,工艺向深亚微米延伸,芯片工作频率的增加,芯片的成品率......
