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[期刊论文] 作者：查良镇,
来源：现代科学仪器 年份：1993
本文概括地介绍了二次离子质谱学的特点和发展,综述了基型SIMS仪器的最新进展和二次离子质谱学领域的拓宽,评述了SIMS定量分析的现状,讨论了发展与应用的关系,最后分析了我国...
[期刊论文] 作者：查良镇,
来源：质谱学报 年份：2005
2005年全球华人二次离子质谱学及相关领域研讨会（2005 Worldwide Chinese Secondary Ion Mass Spectrometry＆Related Topic Symposium，2005WCSIMS）于1月15--19日在台湾新竹成功举...
[期刊论文] 作者：查良镇,,
来源：质谱学报 年份：2008
第十六届国际二次离子质谱学会议（The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMSXVI）于2007年10月29日至11月2日在日本西部滨海城市金泽（Kanazawa...
[期刊论文] 作者：查良镇,
来源：真空科学与技术 年份：1992
应国际组织委员会和科学委员会主席Benninghoven教授的邀请,作者在1991年8月20日到9月27日间参加了在前荷兰Amsterdam市举行的第八届国际二次离子质谱学会议(SIMS—Ⅷ),...
[期刊论文] 作者：查良镇,
来源：真空科学与技术 年份：1990
一、前言应会议组织委员会和程序委员会主席Benninghoven教授的邀请,受国家教委的派遣,作者和复旦大学的华中一教授组团参加了第十一届国际真空会议(IVC-11)和第七届国际固体...
[期刊论文] 作者：查良镇,
来源：国际学术动态 年份：1992
...
[期刊论文] 作者：查良镇,,
来源：国际学术动态 年份：1999
1 会议概况 1998国际二次离子质谱学研讨会[1998 International Symposium on Secondary IonMass SPectrometry(ISSIMS’98)]暨第2届全国二次离子质谱学会议[Second Chinese...
[期刊论文] 作者：查良镇,,
来源：真空科学与技术 年份：1983
本讲座介绍表面分析技术中的一个重要分支——以离子作为探束的表面分析技术。对离子散射谱(ISS)和二次离子质谱(SIMS)作较详细的说明。离子与表面相互作用常可得到最表层的...
[期刊论文] 作者：查良镇,,
来源：真空科学与技术 年份：1983
第二章离子散射谱(ISS) 对固体表面离子散射的研究,已有相当长的历史。1967年Smith首次利用低能离子散射作表面分析。一、低能离子散射的物理模型用低能(如0.2～2KeV)惰性气体...
[期刊论文] 作者：查良镇,,
来源：分析仪器 年份：1983
在质谱学中经常会遇到“分辨本领”这个术语。分辨本领就是质谱仪器分离不同质荷比离子谱峰的能力,这是公认的概念,没有任何疑问。但是怎样才算“把谱峰分开了”或“可分辨”...
[期刊论文] 作者：桂东,查良镇,
来源：真空科学与技术 年份：1998
在二次离子质谱学中，氧和铯效应是影响二次离子发射最重要和复杂的现象。概括地总结了自９０年代以来对ＧａＡｓ二次离子发射氧和铯效应基础研究的主要成果。在准静态条件下，解决了用惰性气......
[期刊论文] 作者：,
来源：真空 年份：2008
2008年5月14日,日本真空株式会社ULVAC最高顾问,《真空》杂志社国际编委,中国真空学会真空科技成就奖设立人林主税博士应清华大学著名教授查良镇先生及有关单位邀请到清华大...
[期刊论文] 作者：查良镇,桂东,等,
来源：真空科学与技术 年份：2001
简要回顾了二次离子质谱学的形成和发展，从原始概贪出发分析了学科的特点，据此评述了其领域的拓宽和现状，结合近5年来国内外的最新进展，以微电子学和光电子学为重点，兼顾生物和医......
[期刊论文] 作者：邹庆生,查良镇,
来源：质谱学报 年份：1995
二次离子质谱学（ＳＩＭＳ）以其很高的灵敏度、很宽的动态范围和优良的深度分辨已逐步发展成为一种重要而有特色的表面分析手段。本文结合第９届国际二次离子质谱学会议（ＳＩＭＳ－ＩＸ）对ＳＩＭＳ的最新进展作一个......
[期刊论文] 作者：,
来源：真空科学与技术学报 年份：2004
于2004年9月9日～11日在北京召开了五届十一次常务理事会，出席会议的有常务理事王西龙、王树理、江南、刘炳坤、刘鸿飞、达道安、杨乃恒、邵公田、沈先锋、庞世瑾、查良镇、姜燮...
[期刊论文] 作者：,
来源：真空 年份：2011
继续聘请中国真空学会理事长,中国科技大学校长侯建国院士以及(北京)清华大学查良镇教授...
[期刊论文] 作者：,
来源：真空科学与技术 年份：1988
出席会议的有华中一、达道安、董元昌、袁磊、庞世瑾、王芳霖、杨乃恒、蔡海金、姜燮昌、孙春祥、查良镇...
[期刊论文] 作者：梁振,
来源：质谱学杂志 年份：1984
第四届国际二次离子质谱学会议于1983年11月13日至19日本日本大阪举行,十八个国家和地区的约二百五十位代表参加了会议,我国由清华大学查良镇同志和复旦大学朱昂如同志组团...
[期刊论文] 作者：查良镇,阿诺德,巴赫尔,
来源：真空科学与技术 年份：1989
超高真空下keV能量一次氩离子轰击下清洁硅表面二次离子发射的实验研究是二次离子质谱(SIMS)最重要的一种基础研究,它不仅可以支持分析应用,还可用于检验某些理论发射模型。...
[期刊论文] 作者：查良镇,朱昂如,,
来源：真空科学与技术 年份：2004
第四届国际二次离子质谱学会议(SIMS-Ⅳ)于1983年11月13日到19日在日本大阪城附近的箕面观光旅馆(Minoo Kanko Hotel,Osaka,Japan)举行。二次离子质谱学是近十多年发展起来...
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