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[期刊论文] 作者：WANG Zhan-shan XU Yao WANG Hon,
来源：光电子快报：英文版 年份：2007
X 光检查低角度反射率测量被用来调查单身者和 bilayer 电影决定纳米规模结构的参数，三个有效方法被使用 X 光检查反射率分析提供纳米电影结构的一个精确评价介绍。钨(W) 单身...
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