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,Oxygen Scavenging Effect of LaLuO3/TiN Gate Stack in High-Mobility Si/SiGe/SOI Quantum-Well Transis
[期刊论文] 作者:Jin-Feng Feng,Chang Liu,Wen-Jie Yu,Ying-Hong Peng,
来源:中国物理快报(英文版) 年份:2016
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