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[期刊论文] 作者：叶春,须自明,,
来源：计算机时代 年份：2009
基于SNMP（简单网络管理协议）的分布式网络监控系统具有结构简单、扩展性强的特点。文章对SNMP及其管理模型进行了分析、设计并实现了基于该协议的分布式网络监控系统。...
[期刊论文] 作者：叶 春 须自明,
来源：计算机时代 年份：2009
引言 SNMP(Simple Network Management Protocol)，即简单网络管理协议，同它定义的MIB(Management Information Base，管理信息库)一道提供了一种系统地监控和管理计算机网络的方法。随着因特网的迅速发展，作为因特网的主要管理模型，SNMP已经成为网络管理技术的......
[期刊论文] 作者：陆宵宏,须自明,,
来源：信息与电脑(理论版) 年份：2010
本文以人才网站项目为课题,详细分析了人才网站的总体目标和需求,研究了.NET技术构建软件三层结构的方法,并根据需求对网站的功能模块进行功能设计。实现了系统的设计。In...
[期刊论文] 作者：须自明,吴俊,黄蕴,,
来源：电子与封装 年份：2010
随着ADC测试技术的不断发展,码密度直方图技术以及采用正弦波输入的离散傅里叶变换（DFT）频域分析技术已经被广泛应用到ADC的仿真和测试分析中。相对于采用DFT进行频域分析获取A...
[期刊论文] 作者：李辉,廖巨华,须自明,,
来源：电子与封装 年份：2013
文中通过研究MEMS（微机电系统）加速计在SOIC封装（小外形集成电路封装）下的特性，针对MEMS芯片断裂故障的原因分析了影响PPM（百万分比的缺陷率）性能的主要封装工艺步骤。其中感应单元......
[期刊论文] 作者：李辉,须自明,廖巨华,,
来源：电子与封装 年份：2013
文章针对具有Zigbee收发模块的sOc芯片，设计了低功耗实验平台，以纽扣电池为供电电源，研究其在低功耗环境下的耗电情况。通过设置芯片的多种工作模式来模拟真实工作状态，以不同的......
[会议论文] 作者：须自明,王国章,于宗光,
来源：中国电子学会第十三届青年学术年会 年份：2007
SoC设计中实现IP核测试复用的芯片结构一般包含用于传送测试矢量和测试响应的片上测试存取机制TAM和实现测试控制的芯片测试控制器。本文针对一种SoC分析了基于测试总线的芯...
[期刊论文] 作者：须自明,李克为,胡凯,
来源：产业与科技论坛 年份：2021
深度融合型新型研发机构为“政产学研用资”各类产业资源的整合提供了一个实体组织载体,是市场、资金、人才、产业链、供应链、政策有机融合的通道。新型研发机构将作为核心枢纽,弱化各类组织边界,构建产业生态圈,集聚各类创新资源,协同创新,让创新资源在产业生......
[期刊论文] 作者：须自明,苏彦鹏,于宗光,
来源：半导体技术 年份：2007
针对某SOC中嵌入的8K SRAM模块，讨论了基于March C-算法的BIST电路的设计。根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率，研究了测试算法的选择、数据背景的产生，并完成了基于Marc...
[期刊论文] 作者：王国章,须自明,刘战,于宗光,,
来源：微计算机信息 年份：2007
近几年来,SoC技术已经得到了迅速的发展,随之而来的是SoC设计的验证也变得更加复杂,花费的时间和人力成倍增加。一个SoC芯片的验证可能会用到多种验证技术,常用的SoC的验证技...
[期刊论文] 作者：刘战,须自明,王国章,于宗光,,
来源：微计算机信息 年份：2007
在本篇论文中,我们介绍了在标准对称阵列（隔离岛状）现场可编程逻辑阵列结构下的一种有效的布局方法,模拟退火算法。实验结果显示,相比普通的布局算法,模拟退火算法在布局时间上......
[期刊论文] 作者：苏彦鹏,薛忠杰,须自明,韩磊,,
来源：微计算机信息 年份：2007
基于一种适合于测试静态简化故障的MarchSS算法,提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器测试算法-MarchSSE算法。该算法在测试长度不变的情况下,不仅能测出MarchSS算法所测试...
[期刊论文] 作者：王国章,刘战,须自明,于宗光,
来源：微计算机信息 年份：2006
本文介绍了一种新的硬件设计方法——结构化ASIC技术及其代表性的设计流程，对标准单元ASIC技术、FPGA技术与结构化ASIC技术进行了比较，最后给出了结构化ASIC的应用框图。...
[期刊论文] 作者：须自明,刘战,王国章,于宗光,,
来源：电子器件 年份：2007
为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使...
[期刊论文] 作者：于宗光,刘战,王国章,须自明,,
来源：半导体学报 年份：2006
采用ADI与高阶紧致差分相结合的方法计算薄膜SOI RESURF结构击穿电压．数值计算表明，这种方法可以降低方程的迭代次数约40％，并明显减少方程的求解时间．...
[期刊论文] 作者：刘战,须自明,王国章,于宗光,,
来源：电子器件 年份：2007
采用ADI与高阶紧致差分相结合的方法计算3-D寄生电容.数值计算表明,这种方法可以降低方程的迭代次数约40%,并明显减少方程的求解时间....
[期刊论文] 作者：须自明,王国章,刘战,于宗光,,
来源：微电子学 年份：2007
随着工艺偏差的日益增加,新的失效机制也在亚100 nm工艺的CMOS电路里出现了,特别是SRAM单元。SRAM单元的故障由晶体管阈值电压Vt差异引起,而Vt差异又是由工艺偏差造成的。对...
[期刊论文] 作者：须自明,王国章,刘战,于宗光,,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2007
首先给出使用面向对象方式对硬件进行描述和验证的统一框架。这个统一的框架涉及了一种面向对象的语言：e语言以及实时环境Specman Elite^TM。然后介绍了使用e语言进行硬件模块...
[期刊论文] 作者：刘战,须自明,王国章,于宗光,,
来源：固体电子学研究与进展 年份：2006
采用ADI与高阶紧致差分相结合的方法计算大型非对称稀疏矩阵，并实现了该算法在半导体器件模拟中的应用。数值计算表明。这种方法可以降低方程的迭代次数约35％，并明显减少方程的......
[期刊论文] 作者：须自明,刘战,王国章,于宗光,,
来源：微计算机信息 年份：2006
本文针对目前芯片验证中出现的瓶颈问题。阐述了当前流行的验证技术和部分硬件验证语言。文中介绍了SystemC和E语言。以及多种功能验证技术。最后通过对Rana接口芯片的功能验...
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