用于SOC测试的一种有效的BIST方法

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【摘要】

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为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使

【作者】

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【机构】

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江南大学信息工程学院,中国电子科技集团第五十八研究所

【出处】

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电子器件

【发表日期】

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2007年4期

【关键词】

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为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使用改进的BIST方法,对嵌入式存储器使用了MBIST技术.一系列的测试实验数据表明,该BIST方法能有效提高测试覆盖率.

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