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[期刊论文] 作者：贾全杰,
来源：北京同步辐射装置年报 年份：2000
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[学位论文] 作者：贾全杰,
来源：中国科学院研究生院 中国科学院大学 年份：2010
自伦琴发现X射线以来,X射线成像技术得到了迅速的发展,在临床医学、生命科学、材料科学以及工业等领域应用广泛。近十几年来,随着X射线光源技术、X射线光学元器件制造工艺以...
[期刊论文] 作者：裴成文,贾全杰,
来源：半导体学报 年份：1999
利用表面活化剂Ｓｂ在Ｓｉ（１００）衬底上分子束外延生长了不同厚度的Ｇｅ膜，同步辐射Ｘ射线衍射测量表明Ｇｅ膜为部分应变膜，其应变随厚度增大而减小。相应的喇曼光谱中的Ｇｅ－Ｇｅ振动峰位随应变不同而变化，与应变......
[会议论文] 作者：贾全杰,郑中元,
来源：2020教育信息化与教育技术创新学术年会 年份：2020
目前,城市轨道交通给城市轨道交通类专业的职业教育发展带来了良好契机学校结合工作现场的实际情况,必须采用符合订单企业岗位要求的教学内容和教学方法,10余年的教学实践形成了轨道交通订单班教学特色的教学体系,在实际教学中收到了一定的教学效果,也得到到了......
[期刊论文] 作者：渠波,贾全杰,等,
来源：北京同步辐射装置年报 年份：2000
本文采用多功能四圆X射线衍射仪测绘出立方相GaN/GaAs(001）外延层的极图和倒易空间mapping，研究了六角相GaN和立方相微孪晶的取向、晶粒形状和极性等特征。结果表明外延层中片...
[期刊论文] 作者：贾全杰,蒋最敏,
来源：理化检验：物理分册 年份：1998
Ｘ射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射Ｘ射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法，研究了不......
[期刊论文] 作者：孙元平,贾全杰,
来源：Science in China(Series E:Technological Sciences) 年份：2002
We successfully used the metal mediated-wafer bonding technique in transferring the as-grown cubic GaN LED structure of Si substrate. The absorbing GaAs substra...
[期刊论文] 作者：万尤宝,贾全杰,等,
来源：北京同步辐射装置年报 年份：1998
研究了用电阻加热引上法生长的铌酸钾锂晶体中组份离子的分布及其对晶体的折射率和倍频性能的影响。...
[期刊论文] 作者：姜晓明,贾全杰,等,
来源：北京同步辐射装置年报 年份：1997
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[期刊论文] 作者：贾全杰,蒋最敏,等,
来源：北京同步辐射装置年报 年份：1997
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[期刊论文] 作者：贾全杰,蒋最敏,等,
来源：同步辐射装置用户科技论文集 年份：1998
X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法，研究了......
[期刊论文] 作者：贾全杰,蒋最敏,等,
来源：同步辐射装置用户科技论文集 年份：1998
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[期刊论文] 作者：何庆,贾全杰,姜晓明,
来源：核技术 年份：2004
利用掠入射X射线反常散射/衍射实验技术对Si(001)上生长的单层和双层Ge量子点的组分分布进行了直接测量,结果显示,在Si间隔层厚度为90nm时得到的双层Ge量子点与单层Ge量子点...
High resolution X-ray diffraction investigation of epitaxially grown SrTiO_3 thin films by laser-MBE
[期刊论文] 作者：翟章印,吴小山,贾全杰,,
来源：中国物理C 年份：2004
SrTiO3 thin films are epitaxially grown on DyScO3, LaAlO3 substrates with/without buffer layers of DyScO3 and SrRuO3 using laser-MBE.X-ray diffraction methods,...
[会议论文] 作者：黄郑餐,谢明,贾全杰,
来源：2020年基础教育研究论坛 年份：2020
电子行业对中国经济发展有着重要的推动作用,特别是随着全球经济一体化进程的逐步加快,市场对人才的素质有着更高的要求,要使职业电子应用技术专业的毕业生能适应市场对人才的需求,科学合理地进行课程设置改革是关键.......
[会议论文] 作者：崔树范,吕惠宾,贾全杰,
来源：第七届全国固体薄膜学术会议 年份：2000
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[期刊论文] 作者：贾全杰,姜晓明,蒋最敏,
来源：理化检验(物理分册) 年份：1998
X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布的有效手段.利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展的由反射实验数据逆向求解原子深度分布的分层逼近法,研究了...
[会议论文] 作者：崔树范,吕惠宾,贾全杰,
来源：第七届全国固体薄膜学术会议 年份：2000
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[期刊论文] 作者：唐文新,钱冬,姜晓明,贾全杰,
来源：复旦学报(自然科学版) 年份：2001
采用多种实验技术研究外延生长在GaAs(001)表面的Mn、Co和FeMn合金等磁性金属薄膜. 研究结果表明外延生长的磁性薄膜的晶体结构和磁学性质与体材料相比有明显的差别. 在一些...
[会议论文] 作者：魏向军,徐清,贾全杰,王焕华,
来源：北京同步辐射装置2005年学术年会暨学术委员会 年份：2005
本文用掠入射X射线衍射对磁控溅射制取的等原子比Ni/Ti周期性多层膜晶化热处理后的相深度分布进行了分析.Ni-Ti形状记忆薄膜在深度方向的相分布是不均匀的,表现为靠近外表面...
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