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[期刊论文] 作者：梁晓思,
来源：新课程改革与实践 年份：2010
【摘要】 “语文是人类文化的重要组成部分” 传播中华文化的一个很重要途径便是教育,尤其是语文教学。因而重新认识和讨论语文教学与文化已不可延缓。关于高中语文教学和文化渗透的问题,本文从以下几个方面来认识:1、“课标文化”已被重新写入中学语文教学大纲......
[期刊论文] 作者：来萍, 邝贤军, 梁晓思,,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：2009
主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析，包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设备以及具体的试验方法和合格判据等。...
[会议论文] 作者：来萍,邝贤军,梁晓思,
来源：第六届电子产品防护技术研讨会 年份：2008
本文主要针对电子元器件和电子设备静电放电试验方法进行了对比分析,包括试验针对的产品对象、依据的试验标准、需要的试验设备以及具体的试验方法和合格判据等....
[会议论文] 作者：王有亮,梁晓思,来萍,
来源：ESD-S第五届静电防护与标准化国际研讨会 年份：2016
要准确分析判断器件是否由于ESD造成的损伤或失效,在实际工程案例中通常存在几个难点:被发现的滞后性,电特性上与EOS难以区分,芯片内部的失效点难以定位,失效点的物理形貌难...
[会议论文] 作者：邹金林,王友亮,来萍,梁晓思,
来源：ESD-S第五届静电防护与标准化国际研讨会 年份：2016
ANSI/ESD S20.20和IEC61340是目前中国的电子制造企业开展ESD防护工作时经常参考的行业标准.工程实践中大家对于标准有很多不同的理解,甚至是在一些原则性问题上可以有相距甚远的差异,这无疑将使得部分静电防护工作不能有效地降低静电损伤的风险.本文将基于对众......
[期刊论文] 作者：何胜宗,季启政,胡凛,王有亮,梁晓思,
来源：电子元件与材料 年份：2018
静电放电损伤失效分析是电子制造企业分析产品质量问题和提高产品质量可靠性的难点和关键技术之一。总结梳理生产制造过程中常见的静电源和释放通路,研究元器件静电放电损伤...
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