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[期刊论文] 作者：Larry Wurtz,戴长虹,
来源：船电技术 年份：1996
模拟集成电路的复杂性和制造密度的提高,使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务,传统的模拟电路的测试,被局限在外接一定数目的测试脚这种方式上。一种称为BIST结构...
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