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[期刊论文] 作者：黄姣英, 胡振益, 高成, 武荣荣,,
来源：现代电子技术 年份：2013
军用电磁继电器的可靠性要求极高,任何失效情形必须找出失效原因,进行失效归零。总结了军用电磁继电器的失效分析方法,并对贮存和使用过程中常见的失效模式及失效机理进行分...
[期刊论文] 作者：黄姣英,胡振益,张晓雯,高成,,
来源：电子元件与材料 年份：2014
晶化点是集成电路金属化工艺中温度过高、合金导电性差的一种征兆,也会导致集成电路出现开路、短路等失效情形。总结了集成电路中晶化点缺陷的形成机理,对产生晶化点的工艺原...
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