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[会议论文] 作者:高培德,李兵,章纯思, 来源:中国真空学会第三届真空薄膜技术学术研讨会 年份:1989
[期刊论文] 作者:高培德,章纯思,毕联训,, 来源:真空科学与技术 年份:2004
本文提供一种较精确的表面微区俄歇定量分析方法——组元素标样法,并在两个系统中对具有0.0...
[会议论文] 作者:金丽娜,章纯思,沈德芳, 来源:中国真空学会第三届真空薄膜技术学术研讨会 年份:1989
[期刊论文] 作者:章纯思,毕联训,高培德,陆月珍, 来源:真空 年份:1981
一、引言 俄歇电子能谱仪(以下简称俄歇谱仪)是本世纪六十年代末出现的表面分析仪器。主要用于表面几个原子层内组成元素的定性、定量、价态和能级密度分析。它利用一束低能...
[期刊论文] 作者:郑彦,章纯思,任琮欣,陈建民,陈国梁,杨洁,金丽娜,柳襄怀,谢雷鸣,邹世昌, 来源:物理化学学报 年份:1988
高T_c的Y-Ba-Cu-O超导材料在弱电方面进入实用的一个重要条件,就是需要制备出优质的超导薄膜。已有多种制备超导薄膜的方法见报道。用蓝宝石或Si衬底制备超导薄膜,通常会由...
[期刊论文] 作者:王迅,林荣富,吴则嘉,钮成法,罗兴华,董锡威,高培德,章纯思,张永福,包伟国,, 来源:真空科学与技术 年份:1981
对美国测试与材料学会提供的二氧化硅标准样品,用四台电子能谱仪进行了氩离子对二氧化硅的溅射产额的会测。在1KeV、3KeV 和5KeV 离子能量下,溅射速率均与离子流密度成线性关...
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