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[学位论文] 作者：张宛平,,
来源：武汉轻工大学 年份：2014
山药豆是山药的种子，山药豆富含的氨基酸、胆碱、维生素、多糖等物质，营养价值高。但由于山药豆体积小，表皮较厚，口感稍苦难以储藏等原因，除了少部分做种子和饲料外，大部被废弃，浪费......
[期刊论文] 作者：张宛平,,
来源：上海理工大学学报 年份：2001
考察影响FDI(Foreign Direct Investment)流入的若干个因素,并用以比较中国东部地区与中西部地区的投资环境. 结果显示,中西部地区在利用直接投资上应与东部地区有不同的目标...
[期刊论文] 作者：张宛平,
来源：第四届中国国际集成电路产业展览暨研讨会 年份：2006
探针卡制作既是服务于集成电路的设计和测试封装产业,又是该产业链中不可或缺的一部分,它的成长和发展是和我国集成电路产业的发展紧密相联系的.本文研究，一、探针卡在IC设计...
[期刊论文] 作者：张宛平,,
来源：上海理工大学学报 年份：2000
给出一个委托－代理模型，分析委托人的价值取向对评价和选择代理人的影响以及由此产生的委托－代理效应．模型适用于解释当委托人不是产权所有人时出现的一些现象．...
[期刊论文] 作者：张宛平,
来源：上海机械高等专科学校学报 年份：1996
给出可靠性设计中一个等式的证明，并由此得到关于组合数的两个等式。...
[期刊论文] 作者：张宛平,
来源：上海机械高等专科学校学报 年份：1996
建立一个具有时延的动态系统，用以讨论文化教育领域学科建设中的竞争、发展以及宏观决策调节的作用。...
[学位论文] 作者：张宛平,
来源：上海交通大学 年份：2002
该文研究处在经济体制转型期的中国引进外商直接投资的效应,分析体制或制度安排上的差异对中国在开放的环境里获取利益和防范风险的影响.作者在对国际直接投资的经典理论作一...
[会议论文] 作者：张宛平,
来源：2003中国集成电路产业发展战略研讨会暨中国半导体行业协会IC分会年会 年份：2003
探针卡是介于自动测试系统与IC芯片之间,用于封装前测试IC产品功能参数的精密界面卡,它与集成电路的设计和测试封装密不可分. 由此可见,探针卡制作既是服务于集成电路的设...
[学位论文] 作者：张宛平,
来源：华中科技大学 年份：2020
目的:评估对比三焦点功能性人工晶状体（非球面衍射型）与单焦点非球面人工晶状体植入术后的视力及视觉质量。方法:选取符合条件的白内障患者,共91例138眼,分为两组。A组:术中植入三焦点人工晶体（Zeiss tri 839MP）,共42例65眼,其中女19例34只眼,男23例31只眼;B组:术中......
[期刊论文] 作者：张宛平,宣国良,
来源：运筹与管理 年份：1999
一类博弈的支付或效用水平难以用准确的数量给出，而且效用水平优劣的衡量很大程度上取决于参与者由获取的信息及经验形成的主观判断。对于这一类问题，文章尝试引入相对隶属度反......
[期刊论文] 作者：沈春芳,张宛平,
来源：统计与决策 年份：2006
本文对Harlow下偏矩证券组合优化模型作了改进，使之更符合市场要求且更可操作。在考虑交易费用的前提下，将不可微的双目标规划问题转化为单目标易求解的规划问题：通过引进风险厌......
[期刊论文] 作者：张宛平,王绍智,
来源：上海机械高等专科学校学报 年份：1994
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[期刊论文] 作者：张宛平,孙成杰,
来源：政工学刊 年份：1999
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[期刊论文] 作者：张宛平,王绍智,
来源：第九届全国模糊系统理论及应用学术会议 年份：1998
该文把多目标系统模糊决策理论推广到多目标群体决策，给出一个模糊多目标群体决策方法。...
[期刊论文] 作者：张宛平,杭爱明,龚秀芳,
来源：上海师范大学学报：自然科学版 年份：2010
综合经济指标是指描述或者解释某一经济现象时涉及的由多个既有区别又有一定程度相关性的原始指标组合而成的经济指标．综合经济指标的数量化是实证研究中常要遇到的问题．由于多......
[期刊论文] 作者：杭爱明,张宛平,方胜春,,
来源：上海企业 年份：2009
风险投资也称创业投资,是指把资本投向蕴含较高风险的高新技术及其产品的研究开发领域,促使高新技术成果尽快商品化、产业化,以取得高资本收益的一种投资过程;也是协调风险投...
[期刊论文] 作者：王又良,潘涌,沈冠群,沈可余,姜兆华,张伟,张宛平,,
来源：应用激光 年份：2007
本文简单介绍半导体产业集成电路芯片测试用探针卡,分为以悬臂梁方式的环氧探针(Epoxy ring probe)、垂直探针(Vertical probe card)和微弹簧丝探针(Microspring probe card)...
[会议论文] 作者：王又良,潘涌,沈冠群,沈可余,姜兆华,张伟,张宛平,
来源：2007年中国国际工业博览会科技论坛暨上海市激光学会2007年学术年会 年份：2007
本文简单介绍了半导体产业集成电路芯片测试用探针卡，分为以悬臂梁方式的环氧探针Epoxy ringprobe、垂直探针Vertical probe caLrd和微弹簧丝探针MjcroSpring probe card。以及基于微机电系统的MElls probe card。开发了激光微孔成型精细加工系统，采用半导体泵浦......
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