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HIRFL-CSR调试过程中，利用频谱分析仪实时监测束流，根据其上测的数据进行相关参数调整，改善束流的品质。本文对分析仪上观测到的现象一束流的中心频率发生突变进行了研究，主要就电子束的高压不稳定性和中性化因子的突变做了理论分析，并进行了相关的模拟计算，根据模拟结果初步断定该现象的出现由电子束的中性化因子导致。