【摘 要】
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为了能够实现高精度的距离测量,本文提出了一种利用AOM声光调制器线性扫频的测距方法.基于干涉理论,建立了测距距离与位相、频率之间的数学理论模型.测距实验中,采用AOM声光
【机 构】
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湖北工业大学机械工程学院,湖北省现代制造质量工程重点实验室,湖北武汉430068
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为了能够实现高精度的距离测量,本文提出了一种利用AOM声光调制器线性扫频的测距方法.基于干涉理论,建立了测距距离与位相、频率之间的数学理论模型.测距实验中,采用AOM声光调制器双通扫频的方案,搭建了测距光路实验系统,产生双频成分的光.通过光电探测器,把实验中的光信号转换成电信号.由于产生的为非光学干涉信号,实验中加相关的电子学器件,进行了信号解调处理.最后,实验数据经过FFT变换处理,结果表明测距距离为24.17 m,测距波动范围为±0.22 m.
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