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随着经济社会的发展，人们对消费类电子的多媒体功能要求越束越高；这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用，但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题，因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈，这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题，着重讨论了混合信号边界扫描测试，内置自测试方法（BIST）等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。