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在不同的氧气分压下, 用直流反应磁控溅射法制备了玻璃基TiO2薄膜试样, 测试了试样的荧光发射光谱. 结果表明, 氧气分压为0.35和0.65 Pa时, 荧光光谱在370, 472和514 nm处出现发射峰; 氧气分压为0.10和0.15 Pa时, 发射光谱峰出现在370和490 nm处. 试样带隙为3.35 eV. 0.35和0.65 Pa氧气分压下溅射的试样在带隙中有两个分别低于导带底0.72和0.94 eV的缺陷能级, 0.10和0.15 Pa氧气分压下溅射的试样在带隙中有一个位于导带底0.23和1