测试复杂的多总线SoC器件

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使用多个复杂的总线已经成为系统级芯片(SoC)器件的标准,这种总线结构的使用使测试工程师面临处理多个时钟域问题的挑战.早期器件的测试中,工程师可以依赖某些自动化测试设备(ATE)的双时域能力测试相对简单的总线结构.
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