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本文用恒电位溶出法测定了单链、双链DNA在纳米碳管上的电化学行为,详细讨论了各种因素的影响,并研究了甘草素在铜离子的存在下对DNA的损伤作用,发现在0.84V左右出现一个新峰,1.06V的峰升高。同时用压电石英阻抗技术实时监测了这个损伤过程,进行进一步地佐证,频率的变化是损伤过程中的DNA降解导致的溶液粘密度变化所产生的。