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用射频磁控溅射方法制备多层膜,研究了双层膜NiO/NiFe的矫顽力HC和交换耦合场Hex与反铁磁层NiO,铁磁层NiFe厚度的关系。结果表明:NiO厚度为70nm时,Hex最大;Hc随NiO厚度增大而增大。当NiFe厚度增加时,Hex近似线性减小;而Hc则随NiFe厚度增大开始有缓慢增加,然后才减小。