电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-AES)测定工业硅中铁、铝、钙含量的研究

来源 :中州大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ahanyin
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研究了用ICP-AES法测定出口工业硅中铁、铝、钙三个杂质元素,并与两个行业标准测定的结果进行了比较,获得了较为满意的结果。其回收率为98.8%-102.8%,测量结果的相对标准偏差小于3.6%。
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