论文部分内容阅读
研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS万法.该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题.将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证.实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性.