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用蒙特卡罗（Monte Carlo）方法计算不同能量的X射线在金-硅（Au-Si）界面处产生的剂量增强系数（DEF）与金（Au）和硅（Si）厚度的关系。结果表明：Au和Si的厚度影响界面下的DEF ，界面一侧Si中的DEF随Au和Si厚度的增加而增大。此外还研究了确定的Au厚度在界面下不同位置处的DEF随能量的变化关系，界面处的DEF最大，离界面越远剂量增强效应越小。