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本文在随机测试的基础上提出了逆随机测试(ART)的新概念.在该测试序列的集合中各测试码之间的海明距离为尽可能的大,这样可以使不同的测试码检测到更多不同的故障,从而提高了测试效率和故障覆盖率.本文给出了构造逆随机测试序列(ARTS)的详细过程,并且严格证明了该序列的高效和正确性,同时还给出了用Benchmark和其它电路作为例子的实验结果.