热电应力加速寿命试验数据分析与可靠性估计

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一、前言 1.试验考虑的出发点 过去惯用的加速寿命试验或者是在室温下加重电功率或者是在不加电情况下加高贮存温度,即属于一元应力系统下,进行试验。我们知道,加速寿命试验的意义在于采用高应力级水平的条件下,使器件“加速”失效,从而在较短时间内取得必要的可靠性数据,在一元应力系统下应力级水平是有限的(不能为了“加速”而无限加大应力),为 I. INTRODUCTION 1. The Starting Point for Consideration of Experiments In the past, the accelerated accelerated life test used to either increase the electric power at room temperature or increase the storage temperature without powering the unit is a one-dimensional stress system for testing. We know that the significance of accelerated lifetime testing is to “accelerate” the device at high stress levels and to obtain the necessary reliability data in a short period of time. The level of stress in a unary stress system is limited Can not be “accelerated” and infinitely increased stress)
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