5 d强自旋轨道耦合氧化物Sr₂IrO₄中的电输运物理是该领域存在争议的一个科学问题。本研究应用flux法成功制备(Sr_1–xLa_x)₂IrO₄（x=0,0.01,0.02,0.03,0.05）等系列单晶样品,并通过综合物性测量仪对样品电输运特性进行表征。研究表明:随着La掺杂浓度的增加,样品体系电阻率显著下降,并在x≥0.03时出现金属性(dρ_ab/dT>0)。通过对样品电阻率的一系列拟合发现,未掺杂的Sr₂IrO₄单晶样品在高温部分（T>140 K）和较低温区（40 K<T<80 K）导电机制符合三维变程跳跃模型,中温部分（80 K<T<140 K）导电机制则符合热激发机制;而掺杂样品仅在较低温部分（T<90 K）呈现出明显的变程跳跃电导,并且样品中的激活能随掺杂量增加而减小。通过变程跳跃电导模型拟合发现,掺杂样品中的局域化长度明显大于Ir–O键长,可能是源于系统中载流子产生的退局域化效应。