论文部分内容阅读
在室温下测试了GaPl-xNx(x＝0．05％-3．1％)混晶的喇曼散射谱．在一级喇曼散射谱中观测到了GaP的LO(Γ)模和强度较弱的禁戒TO(Γ)模以及N的局域模(495cm^-3)．在N组分较高的一组样品(x＝1．3％-3．1％)中，还观察到了位于GaP的LO(Γ)模和TO(Γ)模之间的由N导致的LO(N)模的喇曼频移(387cm^-1)，其强度随着N浓度的增加而增强．在二级喇曼散射谱中，除了观测到布里渊区中心的声子散射峰2LO(Γ)外，还观测到了布里渊区边界的声子散射峰2LO(L)、2TO(X)以及