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描述了一种用于检测样品表面电荷分布的静电力显微镜(EFM).利用谐振频率为32.768 kHz的未封装微石英晶振作为微力传感器,它在逼近试件表面过程中,振动特性发生变化.通过检测振动幅值的变化,并经过信号处理来获得样品表面电荷分布的信息.在分析了EFM检测原理的基础上,设计了EFM系统.