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本文针对＂雷达原理＂中二元积累检测性能评价问题,以Swerling I型目标检测为例研究了二元积累检测效率问题,得出了积累检测效率与要求检测概率的非线性关系,二元积累检测最适合应用在高检测概率场合,揭示了大幅减低雷达尺寸的内在原因。该研究不仅有利于＂雷达原理＂课程教学,同时对雷达工程实践也有参考价值。