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文章在经典贝叶斯方法的基础上，提出了一种确定验前分布可信度权重因子的方法。从而利用贝叶斯统计推断方法，得到了电子元器件可靠性评估中，满足可靠度及置信度要求的试验样本数。将计算结果与经典试验统计方法所得样本数进行比较，发现贝叶斯方法由于充分利用了相关产品的历史信息，从而使得评估新产品时，所需要的样本数目明显减少。在减少样本数，降低成本方面，贝叶斯方法较经典方法具有明显的优势。