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采用原子力显微镜、X光衍射仪、电化学阻抗谱等手段对热氧化制备氧化钛膜的结构和电化学性质进行了研究。结果表明 ,金属钛直接热氧化制备的薄膜为金红石型二氧化钛薄膜 ;随氧化温度升高和时间延长 ,薄膜结晶度逐渐增大 ;随氧化温度升高 ,二氧化钛平带电位向负方向移动 ;当温度大于 6 0 0℃后 ,二氧化钛结晶致密 ,电子导电性减小