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用蒙特卡罗方法（MCNP）计算不同能量的X射线在Au-Si-Au界面处产生的剂量增强系数（DEF）与金（Au）和硅（Si）厚度的关系.结果表明,界面下的DEF随Au厚度的增加而增大,随Si厚度的增加而减小.同时模拟了单层Au（Au-Si）与双层Au（Au-Si-Au）结构在Si一侧的DEF,对于结构Au-Si-Au,界面下产生的剂量增强效应更明显.