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为了配合钽铌选矿研究,我们用X萤光法对低含量的钽铌进行了测定,其测定下限对五氧化二钽可达0.001％,对五氧化二铌可达0.001％。采用ICP—AES法测定过的样品为标样,用多重回归求取校正元素间效应的影响系数和谱线重叠校正系数,用铑靶散射线为内标,消除基体效应,用标准化样品来校正仪器本身的漂移,直接将矿样压片进行测定。