二氧化硅-十八烷基三氯硅烷界面的和频光谱相位测量及其测量精度分析

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相位测量和频振动光谱(SFG)可以获得物质表面分子取向等信息,但在实验重复性、实验设计和界面分析等方面仍有一些关键问题没有解决。相位误差会引起光谱变化并误导界面结构分析,因此分析并准确控制误差是相位测量SFG的关键技术。使用z-切石英作为相位标准,测量了修饰在熔融石英基底上的十八烷基三氯硅烷(OTS)在C—H振动波段的和频振动光谱,对OTS的相位光谱进行了解析,结果表明OTS虚部光谱中,2878和2936 cm^(-1)处的两个正峰分别是末端CH_(3)的对称振动(CH_(3)ss)和费米共振(CH_(3
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