【摘 要】
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均匀性是标准物质三大特性之一。X射线荧光光谱法(XRF),精密度高,可实现多元素同时分析,是地球化学标准物质均匀性检验重要方法之一。目前,应用XRF对标准物质进行均匀性检验
【机 构】
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中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,中国地质大学（北京）,华北有色地质勘查局燕郊中心实验室,津标（天津）计量检测有限公司
【基金项目】
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“全国土壤污染状况详查”二级项目“土壤详查统一监控样品研制”,中国地质调查局中国地质科学院基本科研业务费项目(AS2019J03)资助
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均匀性是标准物质三大特性之一。X射线荧光光谱法(XRF),精密度高,可实现多元素同时分析,是地球化学标准物质均匀性检验重要方法之一。目前,应用XRF对标准物质进行均匀性检验还存在争议。由于均匀性检验要求称样量为最小取样量,一般地球化学标准物质的最小取样量为0.1 g,而采用粉末压片-XRF进行均匀性检验时称样量为4 g左右,得到的结果在理论上不足以支撑样品在最小取样量条件下是否均匀。本研究改变了以往压片模具的大小,采用0.1 g样品粉末压片法制样,在对仪器条件进行优化的基础上,选取了3个土壤(GBW074
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