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二氧化锡是一种重要的宽带隙N型半导体材料，由于其具有特异的物理和化学特性能，被广泛应用于气敏元件、半导体元件、透明导电电极以及电极材料。二氧化锡作为一种功能电极材料有着广阔的应用前景，长期以来一直引起人们的关注。但是二氧化锡中的掺杂物对电极的烧结性和导电性有直接影响，因此，建立快速准确可靠的检测技术对于保证二氧化锡纯度具有重要意义。