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在正交偏光干涉实验装置中,用DKDP晶体的电光效应补偿其它晶体电光效应所引起的光程变化,测量晶体电光系数相对于DKDP晶体γ63的数值,提出了一种简单和高灵敏度测量晶体电光系数的方法。
一种简单和高灵敏度测量晶体电光系数的方法——比较法
【摘 要】
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在正交偏光干涉实验装置中,用DKDP晶体的电光效应补偿其它晶体电光效应所引起的光程变化,测量晶体电光系数相对于DKDP晶体γ63的数值,提出了一种简单和高灵敏度测量晶体电光系数的方法。
【机 构】
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山东大学晶体材料研究所,济南250100
【出 处】
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中国激光
【发表日期】
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1990年17期
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