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CDEX装置采用液氩反符合屏蔽方法降低本底，液氩中的杂质可能会对反符合效率造成影响。CDEX装置反符合效率与高纯锗晶体总探测效率、液氩探测器总探测效率有关。6个因素会影响液氩探测器总探测效率。液氩中的杂质会改变慢成分衰减时间。杂质通过埠灭和吸收作用，降低闪烁光产额和吸收闪烁光子，进而降低反符合探测效率。以氮和氧为例，计算了不同含量时发生的焯灭作用对于反符合效率的影响。结果表明，仅考虑埠灭作用条件下，为了使反符合效率达到90％以上，需要将液氩介质中的氮和氧含量降低到约100ppb量级。