论文部分内容阅读
剂量率效应是电子元器件和系统的抗辐射鉴定考核中不可缺失的项目。脉冲激光束是一种较好的模拟剂量率效应的手段。相比传统脉冲X射线装置，利用激光束模拟剂量率效应，脉冲输出稳定，寄生电场效应低，可进行器件微区辐照，而且激光束模拟剂量率装置易实现，剂量率试验的时间和成本均远低于高能X射线辐射试验。虽然激光束模拟剂量率装置具有上述优势，但由于激光束本身的特性，这种方法具有一定的局限性，其中高功率激光的非线性吸收、器件金属线的遮挡效应会严重影响激光束模拟剂量率效应的适用性。因此必须通过适当的试验设计和理论修正才能获得相