【摘 要】
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物体形貌测量中,物体自身的特征信息往往较少,不足以实现三维重建,通过投射液晶编码光栅可以制造出足够的特征点,液晶编码光栅的编码设计及其精确匹配是形貌测量的关键技术.
【机 构】
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天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室
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物体形貌测量中,物体自身的特征信息往往较少,不足以实现三维重建,通过投射液晶编码光栅可以制造出足够的特征点,液晶编码光栅的编码设计及其精确匹配是形貌测量的关键技术.基于液晶显示可控的特性,由计算机控制实现液晶光栅编码的交换,无机械运动.通过液晶光栅编码可以直接获得被测物体形貌特征点信息,提高了测量速度和效率.实验表明,采用粗匹配和基于角点的精匹配方法,可以得到较高的测量精度,测量标准平板平面度测量误差为0.23 mm.
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