芯片载板检查

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【摘要】

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随着电子工韭向微型化、高密度和高速封装的趋势的速度发展越来越快,出现了硅芯片基板也就是芯片载板来适应这些形势.在芯片载板的生产中,质量控制尤其重要.这样,寻求一种自

【作者】

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高艳丽朱斌

【机构】

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江南计算技术研究所

【出处】

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印制电路信息

【发表日期】

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2007年3期

【关键词】

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芯片载板自动光学检测激光盲孔检查自动化目检 chip carrier AOI LVI AVI

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随着电子工韭向微型化、高密度和高速封装的趋势的速度发展越来越快,出现了硅芯片基板也就是芯片载板来适应这些形势.在芯片载板的生产中,质量控制尤其重要.这样,寻求一种自动检测手段作为严格质量的辅助手段就成为,必需.文章就AOI(自动光学检测),LVI(激光盲孔检查),AVI(自动化目检)几种检查手段及其新技术的应用进行了介绍.

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