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报道了一种用Nafion修饰玻碳电极测定痕量锡的新方法.研究了Nafion膜的有关特性和测定的优化条件,当富集时间为3min时,峰电流与Sn(Ⅳ)浓度在1×10-9～1×10-7mol/L的范围呈良好的线性关系,检测限为2.46×10-10mol/L.该法用于实际水样中痕量锡的测定,平均回收率为97.24%.