目的 :建立银杏叶片剂的指纹图谱测定方法。方法 :应用高效液相二极管阵列法 (HPL C- DAD)检测银杏叶片剂中主要化学成分 ,以 Diamonsil TM (钻石 ) C18(2 0 0 mm× 4 .6 mm,5 μm)柱为分析柱、CH3 CN和 0 .0 1mol/ LKH2 PO4缓冲液 (p H2 )为流动相、梯度洗脱、二极管阵列检测器检测 ,测定 3批银杏叶片剂和银杏叶对照提取物的指纹图谱 ;应用相似度计算软件 ,将对照提取物和片剂的整体化学成分信息进行分析。结果 :银杏叶对照提取物中各个成分的相对峰高与不同浓度呈现良好的线性 (r>0 .999) ,3批片剂 (生产日期跨度 1年 )之间整体化学成分无明显差异 ,片剂与对照提取物有较好的相似度 (>0 .96 5 )。结论 :该方法精确、简便 ,可用于各种银杏制剂的质量控制。